美科学家首次实现电子结构可视化

美国沃里克大学和华盛顿大学物理学家们研发出测量原子层薄的、二维材料制成的微电子器件中电子能量和动量的技术，利用此技术可创建材料电学和光学特性的可视化，以指导工程师最大限度地发挥电子元件的潜力，为下一代电子产品---二维半导体铺平道路。

科学家使用角分辨光电子能谱（arpes）“激发”材料中的电子：将一束紫外线或X射线聚焦在一个局部的原子上，被激发的电子从原子中打出。然后，科学家测量电子的能量和运动方向，利用能量守恒定律，计算它们在材料中所具有的能量和动量，再将此计算与最先进的电子结构计算得出的理论预测进行比较。

通过这项技术，科学家们将获得开发“微调”电子元件所需信息，使电子元件工作效率和性能更高、功耗更低，有助于发展下一代电子产品-仅由几层原子组成的二维半导体。