爱德万：让自动测试贯穿一切

根据全球半导体贸易统计组织（WSTS）的数据，2017年全球半导体销售收入4122.2亿美元，同比增长21.62%，是继2010年行业爆发式增长之后的又一大幅增长。2017年全球半导体产业资本支出同比增长35%，投资景气度极大恢复。

人机交互、人工智能、AR/VR、语音识别、智能音箱等成为半导体行业发展的驱动力量，爱德万测试（中国）管理有限公司副总裁夏克金博士提到：“我们把推动半导体行业发展的因素总结为ABCDE，A是AI（人工智能），B是blockchain（区块链），c是cloud（云），D是Big data（大数据），E是share economy（共享经济）。而自动测试将贯穿这一切。”

MPT3000支持PCle Gen 4固态驱动器芯片测试

半导体市场的增长主要来源于存储器，大数据、服务器和数据中心的快速发展加快了对固态硬盘的需求，使之取代传统的机械硬盘成为主流。爱德万测试的存储器测试系统在全球市场占到了47.1%的份额，日前更是推出了全球首发的最新PCIe Gen 4固态驱动器的整体测试解决方案MPT3000平台，可以使固态驱动器制造商更快地将他们的产品推向市场。

MPT3000平台可以用于开发、调试以及量产PCIe Gen 4固态驱动器（SSD），并且MPT3000平台也可以同时兼容PCIe Gen3、SATA和SAS等协议的固态硬盘的测试开发以及量产。MPT3000平台现在可以覆盖PCIe Gen 4设备的所有测试需求，包括支持工程使用的MPT3000ES、支持可靠性验证测试的MPT3000ENV，再到支持量产的MPT3000HVM，用户可以在MPT3000上直接开发PCIE Gen4，而不用等待第三方厂商提供测试方案。它向用户提供一套从设计到制造的测试流程，并使用与爱德万测试已经投入市场的PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构和软件，从而简化了向下一代产品升级的过程。这一整体解决方案为SSD制造商提供了市场最快、风险最低的路径。

爱德万测试系统级测试副总裁Colin Ritchie提到：“为了解决各种各样的固态硬盘协议和形式因素问题，我们提供了模块化的MPT3000平台，可以验证和测试最新一代的PCIe存储器。在这种高度灵活的测试系统中，每一个DUT（待测器件）独立测试架构和硬件加速使它成为一个单一的系统解决方案，可用于几乎所有的工程、批量生产和BIST（内置的自测试）应用程序。”

FV116支持汽车电子芯片测试

汽车电子快速发展，汽车电子已经成为继智能设备和个人电脑后的第三大芯片市场。越来越多的电子产品被应用到汽车上，大到智能驾驶，小到LED仪表盘都对汽车芯片提出了更高的要求，爱德万测试推出FVI16浮动电源，以扩展V93000测试平台在多种电源管理应用市场的能力。

V93000是爱德万久负盛名的单一可扩展平台，可以在很长时间内保持软件和硬件的兼容性，从而减少客户成本。FVI16浮动电源VI板卡可搭载在V93000测试平台上，扩展其性能，使设备可用于测试汽车，工业和消费类移动充电用电源和模拟芯片，让用户可以自如应对不断发展的电动汽车和快充电器市场。

FVI16板卡具有业界最高的仪器通道密度，配置在爱德万测试A-Class测试头内可以使其作为小型系统，从而降低测试成本。FVI16板卡具有16个测试通道，每个通道可以持续提供40W功率，满足最新的快速充电系统。单通道的瞬间脉冲功率达到250W，可满足汽车电子需求。在120V的高压模式下，所有通道可以达到-60V到120V的输出。与采用传统模拟反馈的其它测试系统相比，搭载FVI16板卡的V93000测试系统的数字反馈回路设计提供了市场上最佳的信号源，测量精度和模拟/功率性能。数字反馈技术提供多种独特功能，包括无毛刺的“智能连接”和恒定的开尔文监控，实现可靠的和高精度的测量。用户控制的斜率和带宽设置可以实现快速建立稳定时间以适应各自的负载条件，减少测试时间，过充和不必要的功率，从而提高测试的速度、质量和稳定性。

“增强的电源为V93000平台提供了业界最佳的VI信号性能，并将其覆盖范围扩展到新的市场，使其成为最广泛的测试解决方案，”爱德万测试So C业务集团高级副总裁Hans-Juergen Wagner先生介绍到，“凭借FVI16，这款通用的测试平台可用于测试包括电源管理芯片在内的更广泛的半导体器件，如从安全气囊和ABS（防抱死制动系统）控制器到USB-C充电器和无线电动工具。”

T5503HS2支持DDR5和LPDDR5存储器芯片测试

根据市场调研公司IHS Markit的调研，预估到2021年，1200亿GB的DRAM容量将被数据处理应用市场所需要，诸如移动电子设备，数据中心，汽车，游戏和显卡。为了满足这一庞大的增长需求，芯片制造商正在研发新型的，先进的SDRAM技术，如高达每秒6.4GB数据传输速度的DDR5和LPDDR5存储器芯片。针对当前市场上最高速的新兴存储器芯片，爱德万测试推出了其T5503HS2高速存储器测试系统。该系统不仅能为当前最高速存储器芯片提供业界最高效的量产测试解决方案，同时也可以覆盖下一代超高速DRAMs存储芯片。在目前全球对存储器需求飞速增长的时代背景下，T5503HS2全新测试系统的灵活性扩展了T5503系列产品在当前“超级周期”中的功能。存储器超级周期由飞速增长的终端市场所驱动，这个终端市场包括便携式电子设备及服务器。

T5503HS的测试速率最快能达到8 Gbps同时测试精度在±45皮秒。充分利用其16，256的数据通道，这个全能型测试系统在测试下一代LP-DDR5和DDR5器件的同时也允许使用者兼容测试现今的DDR4，LP-DDR4及高带宽存储器器件，实现了半导体业界最高的同测数和最优利润率。配置的4.5GHz高速时钟选配模块使新测试机拥有了以超过8 Gbps的数据传输速率来应对未来存储器芯片测试的可扩展性。

独特的性能使T5503HS2成为了独一无二的新一代量产测试机，内置的超高速存储器可支持测试LP-DDR5和DDR5器件的关键性能。例如，通过实时追踪功能，测试机能够自动识别和调整DQS-DQ间时序差异来确保更多的时序余量。此外，一个强健的新型逻辑算法模式生成器（ALPG）允许对先进器件的特性进行快速高品质评价。T5503HS2中也配置了一个新型可编程电源供给单元，这个电源供给单元的反应速度是之前版本的四倍，同时带来更低的电压压降。目前使用T5503测试系统的用户可以将设备升级成为新的T5503HS2测试系统，来为下一代存储器器件的测试实现无缝经济的产品线过渡。

爱德万测试（中国）管理有限公司副总裁封薛明表示：“爱德万测试是半导体行业自动测试设备（ATE）的领先制造商，也是电子仪器和系统设计生产中所用测试系统的主要制造商。得益于中国半导体市场强劲的发展和旺盛的需求，爱德万在中国的销售一直保持两位数的增长，2017年更是实现翻倍增长，这主要归功于虚拟货币、手机和存储器市场的驱动。我们希望我们不断推出的产品为中国半导体的发展做出贡献。”