L10—FePt单层膜磁性参数Ku的微磁学模拟

2018-10-21 10:49张浩然
科技信息·中旬刊 2018年9期

张浩然

摘要:用微磁学模拟FePt(30 nm)磁晶各向异性Ku的变化分析矫顽力的变化,与曾实验得到生长温度为700℃用磁控溅射法在MgO(001)基片上生长FePt薄膜对比,得到磁晶各向异性参数Ku。

关键词:L10-FePt;矫顽力;磁晶各向异性参数Ku;微磁学模拟

FePt[1],CoPt[2]和FePd[3]等有序相(面心四方,L10相)合金材料,在交换耦合纳米磁体中,具有高单轴磁晶各向异性(Ku),并且对于高密度数据存储有潜在的应用。这些合金有大的磁晶各向异性(Ku ~1.77×107-6.70×107 erg/cm3,1erg = 10-7 J),以致于呈現出特殊的性质:即超小纳米粒子的阻断温度(TB)高于室温[4]。在这几种材料中,L10-FePt和L10-FePd合金是化学有序的,并且显示出高的磁晶各向异性(Ku)和大的矫顽力(HC)。而L10-FePt合金的磁能积(BH)max达到了13 MGOe,成为高密度磁存储应用的良好候选材料[5]。

1 微磁学仿真方法

微磁学模拟(OOMMF)就基于Gilbert提出了LLG方程为理论依据进行模拟的。模拟样品的尺寸分别为300 nm×300 nm×(5,30)nm;300 nm×300 nm×(3 nm/27 nm,网格尺寸为5 nm×5 nm×1 nm。硬磁的磁晶各向异性轴和饱和磁化强度的方向都垂直膜面。L10-FePt模拟参数:磁化强度M:ML10-FePt约为105 A/m;交换耦合常数A:AA1-FePt,Aex约为10-11 J/m[6];磁晶各向异性参数Ku:K L10-FePt=1~5×106 J/m3。

3 结果与讨论

图1是FePt(30 nm,Ku)经微磁学模拟不同Ku值的磁滞回线。L10-FePt的易轴为[001]方向,模拟只考虑[001]方向的磁化曲线。Ku = 1.0×106J/m3、1.5×106 J/m3和2.0×106 J/m3时,矫顽力分别为Hc =15.18 kOe、25.51 kOe和35. 84 kOe。磁晶各向异性能Ku的增加,矫顽力增大。实验得到FePt(001)(30 nm)薄膜在不同温度进行热处理后的磁滞回线[7]。热处理温度Ta = 500℃,磁化曲线近似呈方形,其主要原因是因为退磁场不一样造成的。沿面内方向磁化,退磁因子N ≈ 0。而沿垂直方向磁化,N ≈ 1,= -NM。沿面内方向磁化,磁化曲线也有面积,可能原因是薄膜内还存在软磁相造成的(两相晶格常数有差异,使得膜内存在畸变)。Ta = 600℃,沿面内方向磁化曲线的面积明显减少,这就说明残存的A1相可能已经不多了。虽然垂直方向磁化曲线的矩形度更好,但是矫顽力却降低了(只有不到1 kOe)。这主要是因为薄膜虽然在一些区域出现了孔洞,但整体是连通的。有序化转变使得颗粒相互吸收或者合并,形成大片单晶,使得畴壁可以在很大范围内比较自由地移动,所以尽管L10相更多,但矫顽力反而变小的原因。Ta=700℃[7]薄膜不连续和小片单晶的出现,从而造成矫顽力更小(0.47 kOe),与模拟结果相差较大。生长温度为700℃用磁控溅射法在MgO(001)基片上生长FePt薄膜。20nm厚的FePt薄膜,矫顽力Hc =30 kOe;当膜厚增加为45nm时,矫顽力Hc = 25 kOe。表明膜厚为30nm时,矫顽力Hc =25~30 kOe[8]。微磁学模拟结果显示,当Ku = 1.5×106 J/m3时,矫顽力大小在此范围内。说明FePt(30 nm)薄膜的磁晶各向异性能Ku大约为1.5×106 J/m3。但是,由于薄膜实际的饱和磁化强度比理想的较小,所以Ta = 700℃的FePt(30 nm)薄膜实际磁晶各向异性能较小。

4 结论

生长温度为700℃用磁控溅射法在MgO(001)基片上生长FePt薄膜。FePt(30 nm)薄膜的磁晶各向异性能Ku大约为1.5×106 J/m3。但是,由于薄膜实际的饱和磁化强度比理想的较小,所以Ta = 700℃的FePt(30 nm)薄膜实际磁晶各向异性能较小。

参考文献:

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[2]Shevchenko E V,Talapin D V,Schnablegger H,et al. Study of nucleation and growth in the organometallic synthesis of magnetic alloy nanocrystals:the role of nucleation rate in size control of CoPt3 nanocrystals. J Am Chem Soc,2003,125:9090-9101

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[5]Weller D,Moser A. Thermal effect limits in ultrahigh-density magnetic recording. IEEE Trans Magn,1999,35:4423-4439

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[8]Li G Q,TaKahoshi H,Shima T,et al. Morphology and domain pattern of L10 ordered FePt films. J Appl Phys,2003,94:5672-5677