熊珀艺,孙向明,黄光明,王 东
(华中师范大学像素实验室 湖北 武汉 430079)
在现代通信系统中,随着射频技术的应用越来越广泛,对射频信号功率的测量精度要求也越来越高。传统的射频信号接收器采用混频技术,将射频信号与本地振荡器作混频,然后对混频后的信号进行采样分析,由于本地振荡器带来幅度噪声很大,因此,传统的射频信号接收器对信号幅度的测量精度不高。近年来高速ADC芯片的产生,实现了对射频信号的直接采样,大大的提升了射频功率的测量精度。本文介绍了一种基于高速ADC芯片的吸收式功率测量系统,分析了系统噪声对测量精度的影响,估算出该功率测量系统的相对精度能够达到10-7ppm(百万分之一)。
图1 高速ADC直接采样射频信号系统框图
本文提出的射频功率测量系统的结构如图1所示,该系统的测量噪声主要来源于ADC的量化噪声、热噪声以及采样时钟的相位噪声[1]。接下来给出系统噪声功率理论计算步骤,该过程运用了ADC12J4000芯片参数做参考。
热噪声是由电子布朗运动引起的噪声,它存在于所有电子器件和传输介质中[2]。由于绝对零度无法达到,因此热噪声是不能够消除的。从图1可以看出,负载R的的热噪声会直接混入ADC的输入信号中,噪声功率Pt可表示为
其中KB为玻尔兹曼常数,单位为焦耳/开尔文,T为绝对温度,单位为开尔文,Δƒ为带宽,单位为赫兹。假设温度T为290K,热噪声的带宽Δƒ为2GHz,得出热噪声功率Pt为3.2×10-11W。
连续时间信号传入ADC后,我们需要对信号采样。理想情况下,采样间隔时间为常数,但实际上,时钟抖动会为采样结果带来相位噪声,假设被采样的信号为g(t),相位噪声电压(RMS volts)2可以表示为[3]
其中σt是采样时钟的抖动,单位为(RMS seconds)。如果我们用一个简单的正弦信号来表示g(t),例如
那么
如果正弦信号g(t)的频率为1.3GHz,信号幅度A为1V,时钟的抖动σt为100fs,可以算出σ2err为7.075×10-8V2,相位噪声功率为1.415×10-9W,负载为50Ω。
信号采样后会被ADC量化,此过程会给数据带来量化噪声。对于一个N位(ENOB)的ADC,量化器的最小分辨率Q为对于一个理想的量化过程,误差电压q(j)将在间均匀分布[4],并且均匀覆盖所有的量化电平,因此量化噪声电压(RMS volts)2可表示为
假设N为10,Vfs为2V,可以算出其量化噪声电压为3.179×10-7V2,量化噪声功率为6.358×10-8W,负载50Ω。
根据上述对系统噪声的分析与计算,我们可以估算出测量系统总噪声功率为6.5027×10-8W,从频域中看,该噪声均匀分布在每个频率点上,那么总噪声的功率谱密度可以表示为
其中Pnoise为总噪声功率,单位为瓦特;fs为采样时钟的频率,单位为赫兹。若被测信号频率为f0,采样时钟频率为fs,FFT数据长度为N,频率分辨率为fres,可以表示为
那么在频域内,频率点f0处,由系统噪声带来的功率测量结果的均方差(RMS watts)可以表示为
如果不考虑快速傅里叶变换对信号功率的估算误差,射频功率测量的相对精度与系统噪声的关系可以表示为
其中μP为功率测量结果的均值。假设N为1024,可以算出对μP为1mW的信号,测量的相对精度最高可达10-7。
为了验证上述三种噪声与信号功率测量精度的相关性,我们对一个已知信号叠加噪声并进行采样分析,其中被测信号为幅度1V,频率310Hz的正弦信号,采样时钟为10KHz,对采样数据作FFT变换,绘出的二维功率谱分布图如图2。由图可知312.5Hz处信号功率的估算相对精度为111.79ppm,这是由系统噪声与数据分析误差共同作用的结果。表1列出了FFT数据长度与结果的相对精度之间的关系,随着数据长度的提高,相对精度η慢慢变小,该结果与公式(13)基本吻合。
图2 二维功率谱分布图
表1 相对精度与傅里叶变换数据长度的关系
根据上述理论推导及仿真,可得出利用采样率为4GHz、ENOB 10位的ADC直接测量毫瓦左右的射频信号功率,只考虑系统噪声的影响,测量的相对精度最高可达10-7。
[1]A.C.Ca'rdenas-Olaya,E.Rubiola,J.M.Friedt et al.Noise characterization of analog to digital converters for amplitude and phase noise measurements.Review of Scientific Instruments. 88:065108(2017).doi:10.1063/1.4984948
[2]J.B.Johnson.Thermal Agitation of Electricity in Conductors.Phys.Rev.32:97(1928).doi:10.1103/PhysRev.32.97
[3]P Smith.Little Known Characteristics of Phase Noise.Application Note AN-741,Analog Devices,Norwood, MA,USA,2004.
[4]H.B. Kushner, M.Meisner,A.V.Levy.Almost uniformity of quantization errors. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement.40(4):682-687(1991).doi:10.1109/19.85334