宿军,王劲松,李延风,刘斯尧
(长春理工大学 光电工程学院,长春 130022)
近几十年来,红外热像仪以其隐蔽性好、具有穿透烟、雾、雨、雪等限制以及可实现远距离全天候观察等优点,在侦查、导航、气象、医学热诊断、工业设备等诸多领域得到广泛应用,推动了国家经济建设的发展。随着红外热像仪研发和生产的日益更新,对相应的系统性能测试提出了更高的要求,其各项参数的检测也愈发重要,红外热像仪性能参数检测系统,控温准确,快速,能够完成最小可分辨温差[1]、最小可探测温差等红外热像仪重要性能参数的测试。系统校正方法的研究。很好地解决了测试系统标定的技术问题。对获得准确的、等指标测试数据,降低测试系统自身特性的影响,具有十分重要的意义。
检测系统工作原理如图1所示。靶标位于准直仪的焦面上,模拟无穷远目标,使热像仪接收到近似于无穷远目标的平行光束。可变温差目标发生器为热像仪提供一个均匀可调的目标-背景温差,经过反射式准直仪辐射到热像仪视场内,使靶标在热像仪视频图像上呈现一定对比度的图案,增加减小温差可使图案对比度增加或减小。通过热像仪视频图像实现对MRTD/MDTD、光轴一致性等参数的精确测试。
图1 检测系统工作原理图
国标中规定用于评估红外热像仪性能的参数主要有零位走动量[2]、最小可分辨温差(MRTD)[3]、最小可探测温差(MDTD)[4]、噪声等效温差(NETD)和调制传递函数(MTF)。其中MRTD是综合评价红外热像仪的核心参数,是能表征红外热像仪热灵敏度和高频极限分辨力的综合度量。MDTD是一种能与受噪声限制的野外探测性能相关的参数[5,6]。
用于MRTD温差判读的靶标采用四杆靶形式,红外热像仪的MRTD为:
测量时,目标温度比背景温度高时(白杆),称为正温差ΔT1,目标温度比背景温度低时(黑杆),称为负温差ΔT2,取其绝对值的平均值。
MDTD的测试原理与MRTD类似。不同的是靶标形式采用圆孔靶。红外热像仪的MDTD为:
测量时,通过调节面源黑体温度,使目标温度逐渐高于背景温度,当观察亮圆斑时的温差,称之为正温差ΔT1′。继续降低温差,直到暗圆斑出现,称之为负温差ΔT2′,其中K是系统校正系数。该系统校正的量值传递基准是铂电阻温度计(二级标准),经过标准黑体对扫描辐射计进行校正,再用校准合格的辐射计对热像仪整机性能测试系统进行校正。
系统黑体源辐射的是物理温差,经平面反射镜、抛物面镜反射后平行投射于热像仪,这过程中由于大气衰减、反射损失等因素,最后热像仪接收到的辐射能将减弱,也就是接收到辐射温差。辐射温差与物理温差之间的比值(测试很多组数据,再用最小二乘法计算斜率)即为系统校正系数。这个系数K经校正后,即可长期使用。
基于准直光学系统的MTF、透射比及面源黑体发射率的影响,检测系统测量前需要进行系统校正标定。系统校正示意图如图2所示。设备配置图如图3所示。
图2 系统校正示意图
图3 校正系统布局图
进行系统较正,首先将四杆靶温差(物理温差)通过热源控制器降至-8℃(注:最大负温差不能低于黑体辐射温差表的下限,最大正温差不能高于黑体辐射温差表的上限),使用经标定的辐射计,在±1.5°角范围内,对其进行扫描。得到如图4结果。改变温差,测得不同温度(物理温差)下的靶标温差。得到一系列具有四个波峰,三个波谷的温度分布曲线。
图4 温度分布曲线图
对于负温差,将温度分布曲线中四个波峰温度(最小值)取算术平均Tf,再将三个波谷温度(最大值)取算术平均Tg,则Tf-Tg即为该物理温差下的辐射温差。对于正温差,将温度分布曲线中的四个波峰温度(最大值)取算数平均得Tf,再将三个波谷温度(最小值)取算术平均Tg,则Tf-Tg即为该物理温差下的辐射温差。其测试数据表如表1所示。
表1 物理温差与辐射温差测试数据表
由表1中温差数据可知,以物理温差为横坐标,辐射温差为纵坐标,采用最小二乘方法对这些数据进行线性拟合,拟合曲线如图5所示。
图5 系统校正系数拟合曲线
由拟合结果计算可知,K=0.864。得到校正系数后,代入计算公式中,进行系统修正。即可求得被测红外热像仪的MRTD和MDTD参数。完成测试设备的全部校正。
红外热像仪各项性能参数的测试离不开红外成像系统性能测试系统。测试系统校正系数的标定是进行红外成像系统各参数测试的基础,本文针对红外热像仪性能参数检测系统的系统校正问题,进行了研究和探讨。分析了采用高精度成像式红外测温仪测温的系统校正方法,通过测试实验获得了系统校正系数。实验结果表明该方法可满足仪器常数的标定测试要求。能够很好解决检测系统校正的技术问题。对于红外热像仪的应用具有重要的现实意义和应用价值。
参考文献
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