脉冲中子氧活化测井技术在低渗透油田的应用

谭文秀（大庆油田测试技术服务分公司评价中心， 黑龙江 大庆 163000）

脉冲中子氧活化测井技术在低渗透油田的应用

谭文秀（大庆油田测试技术服务分公司评价中心， 黑龙江 大庆 163000）

本文介绍了脉冲中子氧活化测井技术的原理，以及在XX低渗透油田上的应用情况和存在的一些问题。

脉冲中子氧活化测井技术；低渗透油田；应用

XX油田是非均质多油层注水开发油田，了解注水井各油层的吸水状况，对于油田开发和生产具有极其重要的作用。油田测量吸水剖面最常用的方法是放射性同位素示踪测井技术。但随着时间的推移和油田开发的不断深入，在近几年的同位素注入剖面测井中的放射性示踪剂沾污、漏失和窜槽现象比较多，因此在放射性同位素示踪测井曲线上产生了不能正确反映注水量的假异常，影响了注入剖面测井的准确性，降低了资料利用率。而应用脉冲中子氧活化测井技术，弥补了这些弊端，主要应用在注凝胶、注聚合物、低注入量、沾污严重及窜漏等类水井中，地质分析效果良好。

1　现场应用

（1）对于同位素示踪剂“沾污”的井，如XX井为分层井，在进行同位素示踪测井中，由于层位II正对着配水器，使得同位素的反应很难确定该层位的吸水量，不好确定扣除沾污的比例。而脉冲中子氧活化技术就可以确定出该层的实际吸入量。

某井日配注20m3，用同位素示踪和氧活化测井得到的解释结果如表1。

表1　

从表l看出，脉冲中子氧活化测量II层相对吸水量为70.14% ，III 层相对吸水量为29.86% 。测量的总流量为20.26m3/d。II 层绝对吸水量为14.21m3/d，III层绝对吸水量为6.05m3/d。氧活化法测量同时还测出了该层的绝对吸水量。而同位素由于存在沾污的影响，测得II层相对吸水量为46.2%，误差很大，影响了注入剖面的准确性。

（2）在存在大孔道地层的情况下，可避免或消除地层大孔道对放射性同位素注水剖面测井的影响，如XX井该井为分层配注，从井温曲线可以看出，该层井温有变化，说明该层有水量变化。但同位素示踪测井技术由于同位素载体进入层位的内部，超出伽玛仪器探测范围，不能真实的说明该层位的吸水情况。

接下来对该井进行氧活化测井项目，在层上、下分别加测点进行测量，该层位的绝对吸入量为9.14方。同位素示踪测井技术由于同位素载体进入层位的内部，超出伽玛仪器探测范围，不能真实的说明该层位的吸水情况。氧活化测井技术，可避免或消除地层大孔道对放射性同位素注水剖面测井的影响，为油田开发提供可靠的注水井注水剖面资料，是油田在注水开发后期测量注水井注水剖面的行之有效的测井方法。

（3）脉冲中子氧活化测井技术还可以判断封隔器密封性，在分层配注井中，如果各层段封隔器都正常工作，且套管外水泥环中没有窜流，则在封隔器上下，即在一个配注段中最上面射开层位之上和最下面射开层位之下，不应该测到水流，并且油管内水嘴上下流量差应该等于该配注段各层注入量之和。可是实际资料显示，封隔器不密封的情况经常出现，有时甚至会出现几个封隔器同时失效的情况，因此测井施工和资料解释中要首先检验封隔器是否密封。

（4）对于喇叭口在射孔段底部，当同位素微球密度大时，微球滑脱、下沉，下部同位素多，上部到位少，污染多。即使同位素微球密度不大，也常因为井段长，沿途沾污损失后，上部主吸水层同位素到位少或不到位，影响资料解释质量。如XX井为笼统注水，并且喇叭口在射孔层的底部。另外两个小层距IV层的层距在为25米，从注入剖面对比成果表中可以看出，IV层为主力吸水层。又对该井进行了氧活化测井项目进行对比，结果显示，III层的绝对吸水量占全井的百分之五十二，为主力吸水层。

2　存在的问题

2.1流量测量的影响

目前，使用的氧活化仪器测得的油管流量的下限为3方/天，套管流量的下限为8方/天，而XX油田为低配注油田，某些井因不能满足流量测量条件而无法进行测井。

2.2源距的限制

由于源距的限制，对于层间距小于一米的层位，氧活化测井技术无法将层位分开，只能按和层进行处理。

2.3井况的影响

由于井内可能有脏物或死油很多，而且分布不均匀，使得仪器与油管的环形空间面积是变化的，可能使得下一测点比上一测点的水量要高。

［1］付剑，山永兰.注入剖面测井存在的问题及解决途径［J］.大庆石油地质与开发，2004，23（1）.

［2］钟兴福，李婧，朴玉琴，龚杰.中子氧活化测井技术在油田开发中的应用［J］.测井技术，2004，（28）.

［3］陆海英，董丽华，兰艳.脉冲中子氧活化测井技术在油田开发中的应用［J］.大庆石油地质与开发，2004，23（2）.

［4］孙秀梅，严青伍，王佳平，崔杰.脉冲中子氧活化测井仪的改进及应用［J］.大庆石油地质与开发，2005，24（3）.

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