宽带低相噪频率综合器设计与实现

2015-12-18 13:17朱康生
电子科技 2015年7期
关键词:锁相杂散锁相环

李 昂,于 萌,朱康生

(西安电子工程研究所专业3部,陕西西安 710100)

频率综合器广泛应用于宽带测量设备、无线通信、军用雷达、电子对抗系统中,随着军用雷达、电子对抗及横向军品、民品技术的高速发展,对分系统的“心脏”部件频率综合器提出了越来越高的要求[1]。常用的高性能频率合成方式主要有以下4种:锁相频率合成(PLL)、直接模拟式频率合成、直接数字式频率合成(DDS)和混合式频率合成(DDS+PLL)。PLL技术具有频率覆盖范围大、相位噪声低、杂散抑制好的特点而被广泛应用。

1 方案设计

本文采用经典的PLL结构产生超宽带、低相位噪声信号[2-3]。频率合成器的频率输出范围为7.12~9.12 GHz,相位噪声要求≤-96 dBc/Hz@1 kHz;杂散抑制≤-70 dBc;频率步进8 MHz。采用传统的PLL结构,电路结构简单,通过合理器件选择可实现低成本高性能指标。文中采用80 MHz输出的高性能OCXO晶振作为参考输入频率,PLL芯片应用国产小数锁相环芯片GM4704,其射频输出频率可达到10 GHz,其性能优于同款Hittite的HMC704,电路结构简单、功耗减小。电路框图如图1所示。

图1 锁相环基本框图

2 指标分析

2.1 相位噪声分析

一个理想锁相环相位噪声取决于多项因素:(1)参考分频器的附加抖动噪声,VCO分频器的附加抖动噪声。(2)VCO的灵敏度,VCO的增益Kvco,VCO自身的相位噪声频谱。(3)鉴相器引入的鉴相周期杂散,电荷泵自身的热噪声和1/f噪声。(4)环路滤波器和环路带宽。(5)参考信号源的相位噪声频谱。(6)芯片的工作模式。整数、小数调制类型。合理选取与配置相关芯片寄存器的各个参数可实现高的性能指标。根据GM4704LP4手册[4],其FOM基底为FP0_dB= -227 dBc/Hz@1 Hz;闪烁噪声基底为 FP1_dB=-266 dBc/Hz@1 Hz。输出为9.12 GHz时可得,PLL基底如式(1)所示,闪烁噪声1 kHz处如式(2)所示。

2.2 杂散分析

小数频率合成器[5]的杂散是因VCO的工作频率和鉴相频率没有直接的倍数关系。正因如此,VCO的工作频率和鉴相频率的高次谐波互调造成了杂散频带。当VCO的工作频率与鉴相频率的整倍数接近时杂散将会达到最大。当VCO的工作频率是鉴相频率的整数倍时,就不会有混合的频率产生。通过公式,可计算整数边界的杂散分布,d<m,m为小数杂散阶数,且d,m都取整数。当m>4时小数杂散已可忽略不计。计算可得距离输出频率最近的杂散为±4 MHz处。通过设计合理环路滤波器的环路带宽,调节CP偏置电流,可有效抑制杂散。

所有外界的频率经耦合、辐射等多种原因都可能进入VCO的调谐控制端,在VCO的输出形成杂散。一个跳频源内的振荡器、DC/DC等,均可产生杂散,所以在PCB布线是要满足电磁兼容相关原理,加强电源滤波,控制信号在不适用时应关闭等,均可有效抑制这些杂散的出现。

2.3 环路滤波器设计

环路滤波器设计是锁相环设计的核心之一[6-8]。其中,环路带宽的选择需要折中考虑。带宽小,可降低近端相噪,抑制带外杂散,但环路锁定时间长;带宽大,环路锁定时间短,但不能有效地抑制带外杂散。图2为本设计采用的环路滤波器形式。

图2 环路滤波器结构形式

通过PLL锁相环仿真软件设计本环路滤波器,其中 Cb=1 nF;Rb1=Rb2=1 kΩ;R2=130 Ω,R3=130 Ω,R4=1 kΩ,;C1=680 pF,C2=15 nF,C3=330 pF,C4=22 pF。此时的环路带宽为 250 kHz,相位裕度为58°[9-10],其相位噪声仿真曲线如图 3 所示。

图3 相位噪声仿真曲线

3 电路实现与测试结果

为实现高相位噪声及杂散指标,系统电源供电设计应加强滤波、隔离、屏蔽。系统供电包括+15 V、+5 V和+3.3 V。+3.3 V由+5 V通过稳压芯片ADP151得到直接给GM4704供电。ADP151输出稳定,输出纹波噪声低,电源抑制比高。各 +5 V和+3.3 V电源之间用磁珠进行隔离。整个系统的控制电路与PLL电路分开,采用两块电路板,可有效抑制数字电路对PLL电路的干扰,减少不必要的杂散出现。整个电路用腔体隔离,实现较好的电磁屏蔽特性。环路滤波器中的运算放大应采用低噪声电压运放,运算放大器的电源要进行良好的滤波处理。

实验供电由外部提供 +5 V,+15 V电源,用80 MHz恒温晶振作为参考时钟,其相位噪声指标良好。应用信号分析仪E5052B对该频率源的杂散、相噪进行测试。相位噪声测试曲线如图4所示,测试频率为9.12 GHz,相位噪声指标为-97 dBc/Hz@1 kHz;杂散测试如图5所示,杂散优于-70 dBc。

图4 9.12 GHz相位噪声测试曲线

图5 9.12 GHz杂散测试曲线

4 结束语

该频率综合器满足指标要求,相位噪声与杂散均达到较好水平,且性能稳定可靠。该设计方案可应用于同类型的频率源设计,在以后的设计中,应该优化电路布局,加强电磁兼容性设计,以使得杂散水平更低,有助于雷达整体性能的优化。

[1] 池保勇,余治平.CMOS射频集成电路分析与设计[M].北京:清华大学出版社,2003.

[2] 白居宪.低噪声频率合成器[M].西安:西安交通大学出版社,1994.

[3] 张太江.现代微波PLL设计方法研究[D].成都:电子科技大学,2002.

[4] 成都国腾电子技术有限股份公司.GM4704设计应用手册[M].成都:成都国腾电子技术有限股份公司,2013.

[5] 赵彦芬.基于Δ-∑调制技术的小数分频锁相环的应用[J].无线电工程,2010,40(4):49 -51.

[6] 蔡发娟.宽带微波锁相频率源设计[D].成都:电子科技大学,2010.

[7] 张厥盛,郑继禹.锁相技术[M].西安:西安电子科技大学出版社,1996.

[8] 福昌,鲁昆生.锁相技术[D].武汉:华中理工大学,1996.

[9] 王建辉.雷达频综模块和中频接收模块的设计与实现[D].成都:电子科技大学,2010.

[10]吴涛.W波段相参频率源技术及应用研究[D].成都:电子科技大学,2010.

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