周丽荣
摘 要:高频部分电路由于分布电容和引线电感的存在,可以引起寄生反馈,使得发射机高频电路产生寄生振荡。寄生振荡会产生寄生调制,轻则干扰飞机上的电子设备;重则可能使功放级输出功率下降,板耗增加;严重时,还可能烧坏功放管。分析了CT-3超短波电台发射机的寄生振荡(自激)故障,以期为设备维护提供一定的参考。
关键词:寄生振荡故障;高频部分电路;功放管;双重调制
中图分类号:TN830.5 文献标识码:A DOI:10.15913/j.cnki.kjycx.2015.22.142
高频部分电路的高频振荡器是用来产生频率为100~150 MHz的等幅高频信号。由于工作频率范围宽,频率稳定性差,所以用发射机自调频电路微调其工作频率,使之稳定。
高频部分电路的缓冲放大器是用于放大高频振荡器信号的设备。它可以满足功率放大器的需要,并将高频功率放大器和高频振荡器隔离,以减弱高频功率放大器对高频振荡器频率稳定性的影响。
高频部分电路的高频功率放大器是用来放大高频信号的功率,并实现音频信号对高频信号的调幅,输出的高频调幅信号激励天线向外辐射。
高频功率放大器电路如图1所示,它是由FU-29T双集射四级管G6-3组成的推挽式高频功率放大器。
图1 高频功率放大器电路
功率放大器的阳极回路由主调电容器C6-28、微调电容器C6-29和电感线圈L6-3组成。C6-28的静片接地,动片由遥控器调谐机构带动,与其他调谐回路保持统调。次级输出回路由电感线圈L6-4、微调电容器C6-37、固定电容器C6-41和其他分布参数组成,谐振产生于工作波段的中间频率上,具有较宽的通频带,在100~150 MHz范围内均能与阳极回路配合调谐。输出回路与阳极回路之间采用电感耦合,通过调整微调电容器C6-37,可以调节两回路的耦合程度,使整个通讯波段可靠通讯。CT-3超短波电台发射机的寄生振荡(自激)故障分析如下。
1 寄生振荡(自激)的故障现象
寄生振荡(自激)的故障现象主要有:①载波功率突变。在等幅发射过程中,天线电流从正常值突然减少几十至200 mA。②等幅发射正常,加调制后天线电流下降或调制度达不到100%.正常情况下,加调制后天线电流应略有增加,如果天线电流下降,说明有自激存在。此时,用超高频示波器或频谱仪观察波形有无畸变。寄生振荡的新频率成分使波形产生了双重调制,即波峰出现双包络,波谷有毛刺。自激越严重,双包络和波谷毛刺越明显。③用手靠近功放管时,天线电流变大。④多次收、发转换时,每次的天线电流都有明显差异。⑤敲击机箱时,天线电流有变化。⑥用调试棒检查回路时,天线电流变化后不能复原。这是因为试棒插入时改变了自激振荡的条件,产生了一个新的比较稳定的自激点。
2 寄生振荡(自激)故障的消除方法
寄生振荡(自激)故障的消除方法主要有:①降低功放级帘栅压。自激较轻时,可以通过降低功放级的Eg2来压低自激。但调整Eg2后,还要适当调整输出线圈的耦合程度和输出回路的微调电容(C6-37),兼顾天线电流、失真度和波形。因此,输出线圈耦合增大时,失真度减少,天线电流下降;Eg2升高时,天线电流增大,失真度也随着增大,自激增强。在保证调制度大于80%的条件下,调整C6-37可以减少失真度。②合理调整元件的安装位置。功放管G6-3栅极上的两只阻流圈(ZL6-6,ZL6-5)要互相垂直;帘栅极旁路电容C6-40要向下拉低;缓冲级三只阻流圈之间的距离要远;输出耦合线圈L6-4与初级线圈L6-3之间的距离要近,形状要匀称、平直;自听电路的线绕耦合电容要靠近机壳;输出回路上的并联电容(C6-41)应拉出耦合线圈平面。③更换缓冲放大管FU-17T或功放管FU-29T,并重新统调。④在功放管FU-29T的阳极、栅极或帘极串入一个几十欧姆的防振电阻,以破坏其振幅条件。在高频功率放大器阳极振荡回路的主调电容C6-28动片接地焊线上加套瓷环(MXD-2000Φ7×4×4)。它的作用原理是铁氧体瓷套环的电容器动片引线相当于串联一个引线电感L和损耗电阻。对于频率较高的自激振荡信号来说,瓷环是电阻性,可以消耗其能量;对于100~150 MHz的信号来说,由于瓷环是套在推挽输出电路的零电位点上,对推挽上、下单臂而言,则等于加上一个很小的损耗电阻,所以影响很小。加瓷环后,还应综合调整功放级。这是目前消除自激的一种较简便、有效的方法。
3 消除故障时的注意事项
消除故障时,需要注意以下几点:①维护人员分解、修理高频组件时,不要改变元件的原始位置;②在维护和修理过程中,必须重视高频功率放大器电路,经常检查天线的入射电流和反射电流,防止因天线高频馈线插头松动或分布参数的变化,造成负载不匹配或产生自激而影响正常通讯;③在修理过程中,经过长期的试验,摸索出针对不同寄生振荡(自激)故障现象采用的寄生振荡消除方法。
参考文献
[1]郑崇勋.数字系统诊断和综合[M].西安:西安交通大学出版社,1987.
[2]庞湘萍.飞机综合罗盘自动测试系统设计[J].计算机自动测量与控制,2000(2).
〔编辑:王霞〕