上海市计量测试技术研究院获3项“上海市科技进步奖”

上海市计量测试技术研究院获3项“上海市科技进步奖”

在2014年4月1日举行的上海市科学技术奖励大会上，上海市领导韩正、杨雄为上海科技发展和现代化建设作出突出贡献的科技工作者颁奖，上海市计量测试技术研究院有3项科研项目获颁“上海市科技进步奖”。

《高效测试电磁兼容试验技术开发及应用》项目获科技进步二等奖。该项目扭转了高新技术产品电磁兼容试验必须到国外完成的被动局面，实现一次检测全球通行，在机动车、通信、IT、国防、航天、核电、风电、船舶、轨交等高新技术领域得到了广泛的推广和应用。项目创办的协作联盟已被上海市科委采用，并命名为上海市专业技术服务平台。项目技术成果达到了国内领先、国际先进水平，申请发明专利 2项（已进入实审），发表论文 10 篇，修订国家标准2项，获得国际、国内认可资质13项，培养一支EMC技术团队。

《应对塑料制品“绿色”指令关键危害物质的检测技术》项目荣获科技进步三等奖。该项目通过自主创新，从塑料制品相关"绿色"指令、建立关键危害物质检测方法、研制相应配套检测标准物质三个方面进行研究，项目的技术成果达到国内领先水平。应对塑料制品"绿色"指令关键危害物质的检测技术项目的研究成果经质检系统、第三方检测实验室、科研机构等验证，认为满足塑料制品相应法令法规的要求，为我国塑料制品产业应对相应"绿色"指令提供了有力的保障，并具有广阔的应用前景。

《硅晶片厚度量什溯源系统及标准装置》项目获科技进步三等奖。该项目通过自主设计与制备的双层嵌入式工作台，采用平行度、垂直度的精密装校技术，研制了适于大面积、高精度的标准硅晶片厚度的测量装置，以此装置建立了硅晶片的量值溯源体系。“硅晶片厚度量值溯源系统及标准装置”的完成及后续检测业务的开展，已经为以上海为中心的上百家半导体产业及光伏产业提供校准与技术服务，填补了国内相关技术的瓶颈，打破了原有的国外检测机构垄断的格局，为我国半导体产业及其光伏产业的快速发展的提供了有效的技术支持。

此次获奖证明了上海市计量测试技术研究院科研能力和承担科研项目的水平，反映出上海市计量测试技术研究院科技创新的动力和活力不断增强，进一步促进了上海市计量测试技术研究院科研人员提高科研能力和自主创新的积极性。

（本刊通讯员）