基于Boost升压电路的直流电子负载设计

2013-03-19 02:02张林仙邓彬伟
湖北理工学院学报 2013年1期
关键词:电子负载恒流测试数据

张林仙,刘 刚,邓彬伟

(湖北理工学院电气与电子信息工程学院,湖北黄石435003)

在实际生产中,电源类产品在出厂之前均需要进行性能测试,而运用负载对其测试已经成了当今电源类产品出厂测试的主流。传统的测试一般用模拟负载来代替实际负载,如电阻、电阻箱以及带感性和容性等可调装置来检测电源。但是因为模拟负载有体积大、精度差、响应速度慢、调节困难等缺点而未被广泛使用。因此,设计一种针对电源产品测试的装置——电子负载[1]具有现实意义。

电子负载主要是依靠电子元件吸收并消耗电能,市场上主要有2 种方案。一种是用三极管或者MOS 管等半导体器件经过级联来实现电子负载的功能,这种方案体积小、效率高、成本低,但是所能提供的电流功率较低,只能应用于一些小功率或者要求不高的场合中;另一种就是采用双极晶体管或者场效应管为载体,调节晶体管的导通程度,等效于调节晶体管的等效阻值,使晶体管处于线性工作模式[2],这种方式的电路能够提供较大的电流,能应用于大功率场合中,精度较高,在市场上占有较大份额。但是由于这种方式的晶体管始终处于工作模式状态,大大降低了晶体管的开关寿命,而且晶体管长时间工作导致发热量大,电路的效率较低。

本设计直流电子负载用Boost 电路作为电子负载的主电路,通过控制MOS 管的开通时间,使电路工作在恒压、恒流、恒阻、恒功率等不同的模式下。此方式电路结构相对简单,易于控制,精度高,MOS 管工作于开关状态使MOS 管发热不高,电路效率高,最主要的优点是Boost 电路在输入电压较低时仍能够得到较高的电压及电流,使得系统可测量电源的电压范围大,应用前景广。

1 系统方案设计

1.1 系统总体设计

设计的电子负载主要包含以下几个模块:电压电流采集模块、声光报警模块、Boost 主电路、320* 240 彩色液晶显示、按键输入人机交互模块、串口及USB2.0 通信模块、SD 卡存储模块。直流电子负载总结构图如图1所示。

图1 直流电子负载总结构图

1)Boost 主电路模块通过控制MOS 管的开通时间来控制电路的输出电压、电流。此电路的主要优点是,待测电源输入电压较低时仍能够得到较高的电压及电流,使系统可测量电源的电压范围大。

2)电压、电流检测模块,用来采集被测输入电压和电流。电流检测选用INA282,经过16 位AD 采样,AD 转换芯片采用TI 公司的ADS1115 高速16 位AD,其接口为IIC 接口,可直接与STM32F107 外设的IIC 接口连接,采样精度高,占用资源少。

3)串口及USB2.0 通信模块,主要实现系统与外界通信的功能,将数据通过串口上传至上位机,通过上位机来分析当前被测电源的性能。同时也可以将数据通过USB2.0 存至U盘等移动存储设备中。SD 卡存储模块主要用于存储运行模式参数,方便掉电后再上电时能够恢复原来的状态。同时在没有大容量存储设备或者上位机的情况下,仍然能够将大量的采集数据存储下来。

4)4* 4 键盘及320* 240 彩色液晶屏用于输入设定值等相关信息和显示当前电压、电流等参数信息。

5)高频开关电源由于其体积小、带负载能力强而被广泛地应用于生活、生产中,在市场上占有大量的份额,但是高频开关电源往往会产生较大的纹波,这样会影响电压、电流采样的精度。本设计采用工频变压器,传统的工频供电方式输出电压纹波非常小,对AD 采样造成的影响在允许的范围内。

6)过压、过流保护模块,当Boost 输入电压、电流达到系统所能够承受的电压、电流时,系统通过控制继电器断开整个回路,从而达到保护整个系统装置的目的。

1.2 系统工作原理

本系统有恒压、恒流、恒阻、恒功率、开路5种工作模式。系统通过按键和彩色液晶显示屏显示的信息选择工作模式,并设定相关值。处理器STM32F107 实时采样电压、电流等信息,经过一定的运算后与当前设定值进行比较,通过内部的增量式PID 控制算法,调节输出的PWM 占空比,控制MOS 管的导通时间,从而实现使负载运行的数据与设定值相同。同时,液晶显示屏上不断地更新显示的数据,并可通过按键选择将数据通过USB2.0 或串口传送出去。

2 系统硬件设计

2.1 中央处理器的选择

系统采用意法半导体的STM32F107,此款芯片是基于Cortex-M3 内核的32 位微处理器,片上最高工作频率可达72 MHz,内置SPI、IIC、USATR、USB 等外设接口。每组含有16 个IO 口,方便的彩色液晶屏操作,完全满足系统的要求。

2.2 Boost 升压电路

Boost 升压斩波电路如图2所示。由于Boost 升压斩波电路电感的特殊位置,使得Boost升压斩波电路在电源输出端口的电流变得连续[3],这为恒流负载的应用提供了可行的方案。

图2 Boost 升压斩波电路

2.3 电压、电流采样电路

电压、电流采样电路如图3所示。电流采样采用INA282,INA282 是一款高精度的电流分流监控器,按图3所示连接电路,INA282 输出的电压等于0.1 Ω 精密电阻两端电压的50 倍。电压经过电阻分压后转化为AD 适用的输入电压。AD 转换芯片采用ADS1115,ADS1115 是一款高速的16 位模数转化器,此款AD 采用内部基准电压,且基准电压可编程选择±4.096 V、±2.048 V、±1.024 V、±0.524 V、±0.256 V,在处理器运算时可以直接移位运算,使得采样计算能达到较高的精度。

图3 电压、电流采样电路图

2.4 过压、过流保护电路

系统在运行过程中,当输入电压、电流过高时,系统输入端断开,使其处于开路状态,其结构原理图如图4所示。在开路状态,系统仍对待测电源的电压进行检测,同时会有声光报警提示。

图4 电压、电流保护电路

3 系统软件设计

3.1 程序设计

在本设计方案中,PID 算法实现PWM 闭环控制,并实时扫描矩阵键盘来获得外界控制信息。液晶显示也设计为实时工作方式。在处理数据过程中,采用的是加权算法。系统程序流程图如图5所示。

图5 系统程序流程图

3.2 PID 控制算法

系统采用PID 控制算法[4],其表达式如下:

u(k)=Ae(k)+Be(k-1)+Ce(k-2)。

传统的PID 控制算法表达式为:

u(k)=kp(e(k)-e(k-1))+kie(k)+kd(e(k)-2e(k-1)+e(k-2))。

本设计的PID 控制算法与传统的PID 控制算法相比有以下几点优势:

1)处理器运算量小,计算机输出控制增量,所以误动作影响小,必要时可用逻辑判断的方法消除。

2)算式不需要累加,控制增量的确定仅与最近k 次的采样值有关,所以较容易通过加权处理而得到比较好的控制效果[5]。

3)抗干扰性强。切换模式时冲击小,便于实现无扰动切换。此外,当计算机发生故障时,由于输出通道或执行装置具有信号的锁存作用,故仍能保持原值。

4 测试结果与分析

4.1 测试用仪器清单

4 位半数字万用表:VICTOR 公司VC9205型;60 MHz 数字存储示波器:Tektronix 公司TDS1002 型;直流供电电源:CALTEK 公司CA173050 型;1 Ω 和0.1 Ω 的功率电阻若干。

4.2 测试数据

4.2.1 电流测试数据

设定电流从0~1 000 mA 变化时,电压、电流显示值和实际电压、电流测试数据如表1所示。

表1 电压、电流显示值和实际电压、电流测试数据

4.2.2 恒流工作模式测试数据

当直流电源输出电压在7.5~17.5 V 变化时,恒流工作模式测试数据如表2所示。

表2 恒流工作模式测试数据

4.2.3 恒压工作模式测试数据

当直流电源输出电流在100~1 000 mA变化时,恒压工作模式测试数据如表3所示。

表3 恒压工作模式测试数据

4.2.4 过压保护测试数据

在不同给定电流时,过压保护测试数据如表4所示。

表4 过压保护测试数据

4.3 结果与分析

通过实验测试,直流电子负载设置分辨率为10 mA、10 mV、0.1 Ω、0.1 W,显示精度达1 mA、1 mV、0.01 Ω、0.01 W,直流电子负载具有直流稳压电源负载调整率自动测量功能,测量范围为0.1%~19.9%,被测电压可测范围为0~30 V,测量精度为±1%。串口、USB2.0 通信接口与上位机、USB 大容量存储设备正常通信。所设计的直流电子负载能够满足预期的要求。我们还发现利用Boost 结构搭建的恒流电子负载的工作效率远比其他方式高。虽然开关管的工作产生了噪声干扰,但我们通过对Boost电路参数的精确分析选定,已经将噪声干扰降得很低,完全能满足测量的精度要求。

[1]蒋益飞,周杏鹏.基于STM32 直流电子负载的设计与实现[J].仪器仪表用户,2012,19(3):68-70.

[2]宋亚明.浅析现代电子负载系统方案设计[J].信息科技,2011(4):211.

[3]Pekik A Dahono,Slamet Riyadi,Ahmad Mudawari,et al.Output ripple analysis of multiphase DC-DC converters[C].IEEE Power Electronics and Drive Systems Conf.,Hongkong,China,1999:626-631.

[4]路通达,谌海云,冯庆华.一些先进PID 控制方法比较[J].仪器仪表用户,2007(5):99-100.

[5]张锦明,杨磊,潘攀.基于“有限”搜索范围的距离加权算法研究[J].测绘科学,2010,35(6):117-119.

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