秒级测试,泛华测控流量传感器测试系统带您体验高速检测等

秒级测试，泛华测控流量传感器测试系统带您体验高速检测

近期，由北京中科泛华测控技术有限公司(简称：泛华测控)设计并开发的流量传感器测试系统正式交付客户使用。

该系统秉承泛华测控一贯的“柔性测试”技术设计理念，在提高系统的精确性、可靠性及灵活性等方面进行了大量的研究，并根据被测件特点，提出了适宜的解决方案。首先，根据被测件对测试环境温度的苛刻要求(高温、恒温)，系统的终检测试腔体采用双层封闭式设计，不仅可以对被测件进行预热，而且也可保证精确的被测温度环境要求：多信号点定位设计，实现288个信号点同时被准确定位，保证数据采集的精确性；其次，针对被测件大批量实施模拟信号处理需求，泛华测控开发人员采用了矩阵式的继电器开关设计，可对系统中的阀、气缸、传感器的供电、通讯信号等进行控制。同时实现对200多个模拟信号进行切换采集，保障了测试时信号采集和控制可靠性；最后，在灵活性方面。系统采用的分体式结构设计，提供校准测试与终检测试两个独立的操作平台，大大提高了测试系统的应用范围。

该系统最具特色的是使用双托盘式夹具设计，在每次检测时只需直接将被测件放入托盘夹具内，可实现一次最多测试32件，达到了24秒的单品测试时间，在最大限度内提高了整个终检效率，为用户节约大量时间。该系统可用于对一系列气体质量类的流量传感器进行校准与终检测试，广泛适用于汽车、工业等行业。

Wavesat具1 00Mb／s下行能力的LTE芯片组

专业电子元器件代理商益登科技所代理的宽带无线半导体商Wavesat的全新产品Odyssey 9000 LTE芯片组与第一个具备高性能CAT-3(100Mb／s下行，50Mb／s上行)解决方案，本产品可适用于移动设备包括USB通信装置、数据卡，移动电话和MID等。Odyssey 9000是一个高集成度的系统单芯片，拥有优异性能及低功耗特色并具备高弹性和可编程架构，能轻易地适应LTE不断变化的需求。Wavesat多重协议架构也允许Odyssey 9000支持WiMAX及日本XGP标准及其它4G技术。

随着产业急速向大规模IP应用的发展趋势，使得LTE技术得以实现，Wavesat的系列产品具有高灵活性能，可适应不断变化的产品及市场需求。Odyssey 9000与竞争对手主要区别在于能加速产品上市、高集成度、符合LTE未来面向的系统架构等，其特性可以降低产品成本及提升寿命周期，并且可提供转移到一个至多个无线接点的网络运营或漫游模式。

Odvssey 9000系列芯片组拥有独步全球的双模架构并结合高效率DSP及硬件加速模块等，并可支持CAT-4(150 Mb／s下行)装置标准，Odyssey 9000系列LTE基带处理器OD9010样品计划于今年十月供货，包括LTE协议MAC、RLC、PDCP、RRc和NAS-等以及制造参考设计。后续我们将推出双模式芯片-OD9050，其样品将于2010年中供应，并将3G和LTE集成在相同的芯片组上。